(光栅)SUNMENTA三维数字光栅控制器PDG

  • 2023-02-15 11:05:02
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SUNMENTA三维数字光栅控制器PDG

为精准而设计

“高速三维数字光栅控制器凭借PDG自动光栅控制技术、PMP轮廓测试技术为锡膏印刷、微电子元器件提供高精度的三维和二维测量。内部结构模块化设计,实现了高集成,简单化,有利于各种应用及设备维护。

功能特点

PDG可编程全光谱结构光栅

可编程光栅(PDG)技术形成全光谱结构光栅,实现了对结构光栅的软件调制及控制,提高了设备的检测能力和适用范围。

PMP调制轮廓测量技术

运用*的相位轮廓调制测量技术(PMP),8比特的灰阶分辨率,达到0.37微米的检测分辨率。对焊膏印刷进行高精度的三维和二维测量。

3维及2维测量

自动检测所有需要检测的物体的体积,面积、高度、XY位置形状不良等工艺缺陷。

克服反射率的差异

同步漫反射技术(DL)完*焊膏的结构阴影和亮点干扰。

*的稳定性

控制器由可编程控制器、数字光栅、影像系统组成。

应用于SPI焊膏检测

SPI 解决焊膏缺陷,包括体积、面积、高度、XY偏移、形状,漏印、少锡、多锡、高度偏高、高度偏低、连锡、偏位、形状不良。

应用于焊膏印刷

印刷机与SGO-500三维数字光栅控制器(PDG)组合,快速提升3大优势:

降低成本

产品合并后价格直接下调25%。

提高产品检测自控能力

形成真正的闭环控制,通过印刷后*检测结果,自动对印刷机优化和调整。

自行组合,误判、识别错误

快速模块化组合,根据客户来做检测装置选配及持续升级。

应用于AOI自动光学检测

3D AOI 创新技术解决了现有 2D AOI 无法解决的瓶颈。 利用3维测量核心技术,不受密脚距、透明度、颜色、阴影等周围环境及元器件特性的影响,在原有的2D-AOI基础上快速提升检测能力。

软件系统

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“sunmenta图像分析模块软件为您提供各项标准通信接口,为你的二次开发应用提供方便,只需简调用即可应用,其全面的功能让获取图像、使用滤镜、测量处理和分析成为简单的流程。用户可以轻松快速地进行参数控制。

SGO-500的技术参数

测量原理Measurement Principle3D 白光 PMP PDG(可编程数字光栅)
测量项目Measurements体积、面积、高度、XY偏移、形状,轮廓
检测不良

类型

Detection of non-

performing types

漏印、少锡、多锡、高度偏高、高度偏低、连锡、偏位、形状不良
相机Camera500万像素
FOV尺寸FOV size48×34mm
精度Accuracy高精度:±1μm
分辨率ResolutionXY方向:10μmZ轴:0.37um
PDG控制器45度可变光栅单投影
重复精度Repeatability体积:小于1%(4 Sigma)高度:小于1μm(4 Sigma),面积:小于1%(5 Sigma)
Gage R&RGage R&R<<10%(6 Sigma)
检测速度Detection Speed高精度模式:小于0.5秒/FOV
Mark点检测时间Mark-point detection time0.5秒/个
测量高度Maximum Measuring height700μm(2000) μm
弯曲PCB测量高度Maximum Measuring

height of PCB warp

±5mm
小焊盘间距Minimum pad spacing100μm
小测量大小Smallest sizemeasurement长方形:150μm(5.9 mils), 圆形:200μm(7.87 mils)
工程统计数据Engineering StatisticsHistogram, Xbar-R Chart, Xbar-S Chart,Cp & Cpk, %

Gage Repeatability Data,SPI Daily/Weekly/Monthly

Reports

读取检测位置Read position Detection支持Gerber Format(274x, 274d)格式,人工Teach模式
操作系统支持Operating system supportWindows®XP Professional &windows®7 professional
电源Power200-240VAC,50/60HZ单相

SUNMENTA三维数字光栅控制器PDG

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