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MCPD系列透过率测试仪
(MCPD-9800/MCPD-3700/MCPD-7700)
提供丰富选配套件以及客制化光纤,可依据安装现场需求评估设计,是一套可灵活架设于各种环境下的即时测量系统
膜厚测量
半导体晶圆膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剥离液厚度、湿状薄膜涂布膜(Coating膜、蒸镀膜、接着剂、亚克力树脂、光碟片膜层、薄膜磁头)树脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、机能性薄膜、包裝膜
膜厚测量(分光光谱仪 + 显微镜)
半导体晶圆膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剥离液厚度、湿状薄膜塗布膜(Coating膜、蒸镀膜、接着剂、亚克力树脂、光碟片膜层、薄膜磁头)树脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、机能性薄膜、包装膜。
影印機感光鼓膜厚度量測
半导体晶圆膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剥离液厚度、湿狀薄膜塗布膜(Coating膜、蒸镀膜、接着剂、亚克力树脂、光碟片膜层、薄膜磁头)树脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、机能能性薄膜、包装膜
LB膜测量
蒸馏膜测量
多点膜厚测量
半导体晶圆膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)
光阻剥离液厚度、湿狀薄膜
塗布膜(Coating膜、蒸镀膜、接着剂、亚克力树脂、光碟片膜层、薄膜磁头)
树脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、机能能性薄膜、包装膜