(光谱)R3反射光谱测量系统

  • 2022-10-20 11:05:33
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反射是光谱测量的基本手段,实现反射光谱测量通常需要光谱仪、光源、光纤、测量支架、标准参比样品和测量软件等。对于不同种类的样品,为了获取较好的光谱数据,反射这种基本模式又会演化为更多的形式。

复享光学为用户提供了以光谱仪为核心的反射光谱测量仪器,可以搭建个性化的光谱测量系统。复享光学 R3 反射光谱测量系统可以配置 1 个或者 2 个支架,用于固体和粉末样品的反射率测量。R3 光谱测量支架也可以用来固定光纤探头和光源,具备高灵活性和强实用性。

技术参数
相关产品
型号
描述
R3反射光谱测量支架(TA 光纤)
R3-SMA反射光谱测量支架(SMA905 光纤)
R3-FC反射光谱测量支架(FC光纤)
R3-DTA反射光谱测量支架(双TA光纤)
R3-U反射光谱测量万向支架(TA 光纤万向调节)
R3-DU反射光谱测量双万向支架(双 TA 光纤万向调节)
R3-Mix反射光谱测量支架(双 TA 光纤)
R3-R反射光谱测量支架(TA 光纤倒置)
R3-IS20/30/50反射光谱测量支架 / 积分球
R3-IS20/30/50-T透射光谱测量支架 / 积分球

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