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奥林巴斯手持Vanta系列XRF光谱仪
奥林巴斯手持Vanta系列XRF光谱仪非常坚固耐用，可以在极为恶劣的环境中完成分析要求*的应用。
可进行快速的元素分析。每台设备都应用了奥林巴斯新开发的Axon技术，这种技术是XRF信号处理方面的一项革新，可提供无误、重复性*的结果，从而使用户获得更高的生产力，并快速得到投资回报。Vanta分析仪的用户界面简单直观，其软件已将不同的特定应用进行分类，因此新用户只需极少量的培训就可以操作这个设备。用户通过Wi-Fi、蓝牙或USB等功能，可以轻松地将数据导出。
可用于合金材料中Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Zr、Nb、Mo、Pd、Ag、Cd、Sn、Sb、Hf、Ta、W、Re、Pb、Bi等23种元素的快速分析检测；采用Axon技术，更高X射线计数率，超低电子噪声设计。每次测试前，不需要外部标样，自动能量校准核查；探测器：高性能硅半导体探测器，可同时记录分析数据和光谱图；滤光片：配置1个滤光片，可根据测试元素自动切换；重量：仪器净重小于1.5kg，外形尺寸：242mm x 289mm x 83mm；电源：14.4V可充电锂电池或18V电源变压器，100~240 VAC，50~60 Hz，大70W；运算方法：基本参数法，支持经验系数法修正；气压计：内置气压计，用于因海拔和空气密度的变化对测试结果影响的自动校准。显示屏：800*480(WVGA)液晶电容式触摸屏，支持直接截屏操作；测试窗口加厚防轧膜，保护探测器窗口免受破损；点触或扣动扳机控制测试开始，测试过程无需长扣扳机。根据客户需求，也可以一直按着扳机测试样品。密码保护：开机需输入用户名和密码进行登录；热插拔技术：支持不关机，直接更换电池；薄膜窗口更换：不需借助工具，即可轻松更换窗口膜；操作系统：Linux操作系统，安全、放心；数据显示：元素可以直接以单个元素或氧化物显示，含量以ppm或%单位显示。可根据测试需求，调整元素显示顺序或是否显示；数据浏览：数据以年、月、日为单位进行排列，可快速查找到数据；数据存储：4GB嵌入存储，标配1G MicroSD卡，可扩展存储容量；数据导出：一种是通过存储设备SD卡或U盘，直接将数据导出；一种是通过PC软件将数据导出；数据格式：pdf或Excel格式，包括元素含量、图谱、图像等，并有多种模板供选；数据接口：3个USB接口(2个为A型端口、1个为袖珍B型 端口)；数据传输：MicroSD卡、USB；产品认证：通过CE、IEC61010-1认证；自诊断功能：仪器可自动对硬件、软件、网络、电池等进行诊断，并会生成日志，便于快速排查出故障；防坠落测试：通过美军标准MIL-STD810G的4英尺（1.2m）高空跌落测试；IP防护等级：符合IP 65评级要求，防尘、防止来自各个方向的水喷。
