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X荧光硅铝分析仪性能特点:1 、X荧光硅铝分析仪微机化集成为一体,结构紧凑,外形美观。2、大屏幕液晶显示,全中文菜单提示操作,使用极为方便。3、分析时间短,1分钟能测出SiO2%、Al2O3%。4、仪器检测时不破坏样品,样品可重复使用。5、不用任何化学试剂、无三废排放,不含放射源、低耗电,符合环保节能要求。 6、数据存储量大,含量结果、仪器自检数据都可查询,避免了打印耗材。7、仪器执行GB/T19140《水泥X射线荧光分析通则》。8、可与配料系统联网,实现自动控制。技术指标:1、分析范围: SiO2、Al2O3 0.01%~100%2、分析精度:标准偏差SSiO2≤0.10%、SAl2O3≤0.08%3、分析宽度: SiO2(Al2O3) max—SiO2(Al2O3)min≤5%,例如生料中SiO2:10%~15%,通过标定工作曲线选定。4、分析时间: n*60秒(n为1~5自然数)。5、使用条件: 供电AC200V~240V;环境温度0~40℃;相对湿度<85%(30℃)。6、整机功耗:<30W7、整机尺寸:468mm*368mm*136mm8、整机重量:13.8kg