(光谱)ATP5104高性能光纤光谱仪

  • 2023-03-12 13:05:02
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ATP5104-紫外增强高性能光纤光谱仪

产品概述

ATP5104是奥谱天成针对紫外光谱,特别研制的高性能紫外增强型微型光纤光谱仪,它采用3072像素的紫外增敏线性CCD,可以适应165-1100nm波长范围的测试,CCD检测器曝光时间可以控制在1ms之内,同时,奥谱天成为ATP5104特别定制了超低噪声CCD信号处理电路,其量化噪声小于3 counts,为业界*水平,可以帮助您可以获得*的光谱信噪比。

ATP5104是紫外、可见、近红外光谱应用的理想选择,有不同的狭缝、光栅、反射镜、滤光片可以选择,可以根据您的需求,配置适合不同应用场合的光谱仪,光谱范围从165nm起至1050nm,光谱分辨率可在0.5到4.0nm之间选择,奥谱天成也可为OEM客户提供定制选择。

ATP5104可以接收SMA905接口光纤输入或者自由空间输入的待测光,根据设定的积分时间进行测量,将测量结果通过USB2.0(高速)或者UART输出;

ATP5104-紫外增强高性能光纤光谱仪

特点:

紫外增强高性能背照式CCD

专门针对紫外优化的光路和结构;

探测器:背照式CCD

探测器像素:3072

超低噪声CCD信号处理电路

光谱范围:165-1100 nm

光谱分辨率: 0.1-4 nm(取决于光谱范围、狭缝宽度)

光路结构:交叉C-T

积分时间:2ms-130s

供电电源:DC 5V±10%@ <2.3A

18 bit, 570KHz A/DConverter

光输入接口:SMA905或自由空间

数据输出接口: USB2.0(High speed)或UART

20针双排可编程外扩接口

ATP5104-紫外增强

典型应用:

拉曼光谱仪

微量、快速分光光度计;

光谱分析/辐射分光分析/分光光度分析

透过率、吸光度检测;

反射率检测;

紫外、可见和短波近红外

波长检测

探测器

类型

线阵背照式CCD

探测光谱范围

165-1100 nm

有效像素

3072

像元尺寸

600μm×8μm

全量程范围

~200 ke-

灵敏度

6.5 uV/e-

暗噪声

6 e-

光学参数

波长范围

165-1100 nm

光学分辨率

0.1-4 nm(取决于狭缝、光谱范围)

性噪比

>1000:1

动态范围

3000:1

工作温度

-10-40oC

工作湿度

< 85%RH

光路参数

光学设计

f/4交叉非对称C-T光路

焦距

40 mm for incidence / 60 mm for output

入射狭缝宽度

5、10、25、50、100、150、200 μm 可选,其他尺寸可定制

入射光接口

SMA905光纤接口、自由空间

电气参数

积分时间

1 ms - 130 second

数据输出接口

USB 2.0

ADC位深

18 bit

供电电源

DC 5V±10%

工作电流

<2.3A

存储温度

-20°C to +70°C

操作温度

-10°C to +40°C

物理参数

尺寸

102×720×34 mm3

重量

0.3 kg

Sealing

Anti-sweat

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